光学仪器性能指标「光学仪器参数的测量」

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各位访客大家好!今天小编关注到一个比较有意思的话题，就是关于光学仪器性能指标的问题，于是小编就整理了几个相关介绍的解答，让我们一起看看吧，希望对你有帮助

测温仪的测温范围是多少?

红外测温仪标准温度在36到35度之间，其测量的是皮肤表面的温度，很容易受到环境的影响。测温仪是温度计的一种，用红外线传输数字的原理来感应物体表面温度，操作比较方便，特别是高温物体的测量。

便携式红外测温仪的使用环境温度一般在-20～50℃。而在线式的因为工业现场环境恶劣，设计要求颇高，可以满足80℃，120℃甚至180℃环温甚至更高。当然，测量温度和环温是两个概念，红外测温仪最高可以测到3000℃的高温。

-387℃，沸点是：357℃，用来测量0--150℃或500℃以内范围的温度，它只能作为就地监督的仪表。用它来测量温度，不仅比较简单直观，而且还可以避免外部远传温度计的误差。

建议被测目标尺寸超过视场大小的50%为好。如果目标尺寸小于视场，背景辐射能量就会进入测温仪的视声符支干扰测温读数，造成误差。相反，如果目标大于测温仪的视场，测温仪就不会受到测量区域外面的背景影响。

可以测，但是体表温度会低于人体实际温度，所以测量值会偏低。

能量色散型X射线荧光分析仪的主要技术指标

◎ 高灵敏度---自动切换4种滤光片在测定微量成分时，由于X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景，致使目标峰的观测比较困难。

高精度（内置波峰分离软件）运用新技术数字波峰分离软件（DPD），可以分离在Si（Li）检测器中也难以分离的能谱。 各种修正功能 形状/厚度修正 运用散射线方式对被测物体的形状/厚度进行修正，从而提高精度。

EDX，全称Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy，能量色散X射线光谱仪，EDX是借助于分析试样发出的元素特征X射线波长和强度实现的；根据不同元素特征X射线波长的不同来测定试样所含的元素。

X 射线荧光光谱仪的不断完善和发展所带动的X 射线荧光分析技术已被广泛用于冶金、地质、矿物、石油、化工、生物、医疗、刑侦、考古等诸多部门和领域。

X射线荧光光谱法在化学分析：主要使用X射线束激发荧光辐射，第一次是在1928年由格洛克尔和施雷伯提出的。到了现在，该方法作为非破坏性分析技术，并作为过程控制的工具，广泛应用于采掘和加工工业。

现代X射线荧光光谱分析仪由以下几部分组成：X射线发生器（X射线管、高压电源及稳定稳流装置）、分光检测系统（分析晶体、准直器与检测器）、记数记录系统（脉冲辐射分析器、定标计、计时器、积分器、记录器）。

核医学准直器的主要性能指标

1、准直器能够优化射线的射谱，能够提高图像的质量。准直器又叫限束器、束光器，是X光机的重要配件，它被安装在球管下方，用来限制X射线的照射范围。

2、准直器的作用是使光最大效率的耦合进入所需的器件中或易如接受光信号最大效率的接受。所以它有一个重要的参数：插损，现在的工艺技术可达到0.15dB以下。

3、光束聚焦：准直器可以将散射的光束聚焦成平行光线。通过调整准直器的焦距或透镜的曲率，可以使光束在通过准直器后变得平行，从而方便进行后续的光学实验或应用。光束调整：准直器可以调整光束的形状和尺寸。

4、其主要作用是调整光束的发散角，确保光束在传播过程中保持准直。例如，在激光打标机中，准直器可以将发散的激光束转换为平行光束，从而提高打标的精度和质量。

如何提高分光光度计检定的准确度?

减小偶然误差：根据误差理论， 在消除系统误差的前提下， 如果测定次数越多， 则分析结果的算术平均值越接近真实值。一般只需分析2~3次， 取算术平均值即可。提高测定水平：测量者应避免工作中的过失， 增强责任感。

应使被分析样品的吸光度范围控制在一个合理的范围内。

紫外可见分光光度计的吸光率的准确度，可以通过多去几次样品测得其值，取其平均值，但是有时候会因为取样原因造成每个值之间相差很大，这就说明了取样的技术与水平决定了结果的重现性。

选择适当的灵敏度开关，观察数字表读数，经过调整至数字表读数为最高即可。最后将二紧固螺丝旋紧。波长精度检验与校正：通过逐点测试法记录下的刻度波长与镨钕滤色片特征吸收。

杂散光和基线直线度低、频谱带宽合适、环境条件稳定、样品处理得当、操作规范以及定期进行仪器维护。通过减小这些因素的影响，可以提高分光光度计的准确度和可靠性，从而为单宁含量的测定提供更准确的测量结果。

到此，以上就是小编对于光学仪器参数的测量的问题就介绍到这了，希望介绍的几点解答对大家有用，有任何问题和不懂的，欢迎各位老师在评论区讨论，给我留言。